Difractómetro de rayos X: ejemplo y aplicaciones; Diferentes tipos de microscopios electrónicos.

De -

Difractómetro de rayos X de sobremesa D8 ENDEAVOR de Bruker: este equipo se utiliza para determinar la estructura cristalina de materiales para aplicaciones en polvo, y está diseñado para su uso en laboratorios de investigación y desarrollo, para una operación extremadamente simple, una alta velocidad de medición con los límites de detección más bajos y una rápida entrega de la muestra.  

 

Características:


-       Optimización dinámica del haz.

-       No es necesaria la reconfiguración del instrumento por parte del operador.

-       Detector LYNXEYE XE-T.

-       Máxima calidad de datos y mínimos límites de cuantificación.

-       Manejo intuitivo con pantalla táctil.

-       Bajos costes de funcionamiento gracias al ahorro de energía y sin necesidad de agua de refrigeración.

-   Se utiliza comúnmente en la investigación de materiales para la industria farmacéutica, electrónica, química y de materiales.

 

El D8 ENDEAVOR es un instrumento compacto que utiliza un tubo de rayos X de alta potencia para producir un haz de rayos X monocromático. La muestra se coloca en una posición fija y se dirige el haz de rayos X hacia ella. Los átomos de la muestra difractan los rayos X, produciendo un patrón de difracción en una pantalla detectora.

Es capaz de analizar una amplia gama de materiales, desde metales y cerámicas hasta compuestos orgánicos e inorgánicos.

 

La aplicación del difractómetro de rayos X de sobremesa D8 ENDEAVOR es muy amplia. 



Por ejemplo, se puede utilizar para la identificación de fases cristalinas en muestras de polvo, la determinación de estructuras cristalinas de proteínas y compuestos orgánicos, y la medición de tensiones residuales en materiales metálicos. También se utiliza para analizar la pureza y la calidad de los productos farmacéuticos, y para determinar la composición y la estructura de los materiales semiconductores.

 


PREGUNTA 2:

 

FESEM, SEM y TEM son diferentes tipos de microscopios electrónicos que utilizan haces de electrones para producir imágenes de alta resolución de muestras en una escala nanométrica. A continuación, se describen las principales diferencias entre ellos:

 

·   FESEM (microscopio electrónico de barrido de emisión de campo): Este tipo de microscopio utiliza una fuente de electrones para producir imágenes de alta resolución de la muestra. El haz de electrones se enfoca sobre la superficie de la muestra, lo que permite la visualización de detalles finos. Además, el FESEM puede generar imágenes en 3D y proporciona una mejor resolución espacial que el SEM convencional.

 

·    SEM (microscopio electrónico de barrido): A diferencia del FESEM, el haz de electrones se enfoca en la muestra para generar una imagen de alta resolución. La muestra se escanea con un haz de electrones, que interactúa con los átomos de la muestra y produce una señal que se recoge y procesa para generar una imagen. El SEM es útil para la observación de superficies tridimensionales.

 

·        TEM (microscopio electrónico de transmisión): Este tipo de microscopio se utiliza para visualizar la estructura interna de la muestra. Los electrones pasan a través de la muestra y se proyectan en una pantalla para crear una imagen. El TEM proporciona una resolución espacial muy alta, pero sólo permite la visualización de secciones ultrafinas de la muestra. El TEM es ideal para estudiar la estructura de materiales como las aleaciones metálicas, las cerámicas y los materiales biológicos.

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