Transmission Electron Microscopy (TEM), Scanning Electron Microscopy (SEM) y Field Emission Scanning Electron Spectroscopy (FE-SEM) son tres variantes de microscopía electrónica. La microscopía electrónica es una herramienta con muchas aplicaciones en varios campos de estudio gracias a una resolución mucho mayor de las imágenes obtenidas. https://www.technologynetworks.com/analysis/articles/sem-vs-tem-331262 En este primer link encontramos una comparativa de las técnicas SEM y TEM, así como las ventajas e inconvenientes de una y la otra. La principal diferencia entre ellas es la forma en la que se produce la imagen de la muestra. En TEM, los electrones pasan a través de la muestra, lo que permite la observación de la estructura interna de la misma. En cambio, en SEM, los electrones rebotan en la superficie de la muestra, lo que permite la observación de la topografía de la superficie. Además, TEM se utiliza principalmente para muestras delgadas, como podrían ser secciones transver