La casa comercial Renishaw ofrece el analizador farmacéutico RA802. Este permite la rápida obtención de imágenes Raman lo que puede ayudar por ejemplo, en el desarrollo de fármacos. Además, gracias a su gran resolución permite la identificación de medicamentos falsificados.
https://www.renishaw.es/es/analizador-farmaceutico-ra802--39680
La Difracción de Rayos X (XRD) y la Fluorescencia de Rayos X (XRF) son técnicas complementarias que presentan varias similitudes, ya que ambas utilizan una fuente y un detector de rayos X, pero la información proporcionada por ambas técnicas es muy diferente. La XRD proporciona información sobre las fases cristalinas presentes en una muestra pudiendo distinguir entre compuestos mientras que la XRF puede indicar la composición química de una muestra.
Debido a la complementariedad existente entre estas técnicas, hay casas comerciales que ofrecen instrumentos que combinan ambas técnicas. Así, Thermo Fisher Scientific ofrece instrumentos como el Thermo Scientific Serie ARL 9900 XRF con XRD integrada para el control de diversos procesos.
En el siguiente enlace se puede ver la información de este equipo así como un vídeo en el que se indican sus principales características:
D8 Advance con configuración theta-2theta, Espejo de Gobel, Detector LINXEYE, tubo de Rayos-X de Cobre, sistema de rendijas variables y 9 porta-muestra lineal. Además se cuenta con los software Diffrac.EVA y TOPAS, para evaluación y cuantificación, respectivamente
Función principal:
Identificación y cuantificación de fases mineral por difracción de rayos X. Material Policristalino.
Servicios ofrecidos:
Condiciones de la muestra: Debe venir seca y molida (alrededor de malla 200 y 400. Alrededor de 0,5 a 1g de muestra mínimo
Este equipo está destinado a resolver problemas en áreas como: Ingeniería Química, Metalurgia, Minería, Geología, Corrosión, Materiales, Farmaceútica, entre otros.
Este video de Carl Zeiss muestra el sistema AFM. Este sistema, esta listo en cuestión de minutos para brindar la resolución topográfica de la superficie atómica en 3D. Gracias a las técnicas AFM, estos datos ya están calibrados a escala atómica, lo que abre la siguiente dimensión de resolución a los usuarios de microscopios electrónicos de barrido.
Transmission Electron Microscopy (TEM), Scanning Electron Microscopy (SEM) y Field Emission Scanning Electron Spectroscopy (FE-SEM) son tres variantes de microscopía electrónica. La microscopía electrónica es una herramienta con muchas aplicaciones en varios campos de estudio gracias a una resolución mucho mayor de las imágenes obtenidas.
https://www.technologynetworks.com/analysis/articles/sem-vs-tem-331262
En este primer link encontramos una comparativa de las técnicas SEM y TEM, así como las ventajas e inconvenientes de una y la otra.
La principal diferencia entre ellas es la forma en la que se produce la imagen de la muestra. En TEM, los electrones pasan a través de la muestra, lo que permite la observación de la estructura interna de la misma. En cambio, en SEM, los electrones rebotan en la superficie de la muestra, lo que permite la observación de la topografía de la superficie.
Además, TEM se utiliza principalmente para muestras delgadas, como podrían ser secciones transversales de células o materiales, mientras que SEM es adecuado para muestras más gruesas y puede proporcionar imágenes tridimensionales de la superficie de la muestra.
https://www.upv.es/entidades/SME/info/859071normalc.html#:~:text=La%20mayor%20diferencia%20entre%20un,el%20sistema%20generaci%C3%B3n%20de%20electrones.
En este segundo link, podemos ver una explicación de la diferencia entre SEM y FE-SEM y una resumen del fundamento de la última.
La principal diferencia entre ellas es la fuente de electrones que se utiliza para escanear la muestra. En la Microscopía Electrónica de Barrido convencional, la fuente de electrones es un filamento caliente, mientras que en la Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo se utiliza una fuente de electrones de emisión de campo, que es capaz de producir electrones con mayor energía para obtener una mayor resolución de las imágenes.
Difractómetro de rayos X de sobremesa D8 ENDEAVOR de Bruker: este equipo se utiliza para determinar la estructura cristalina de materiales para aplicaciones en polvo, y está diseñado para su uso en laboratorios de investigación y desarrollo, para una operación extremadamente simple, una alta velocidad de medición con los límites de detección más bajos y una rápida entrega de la muestra.
Características:
- Optimización dinámica del haz.
- No es necesaria la reconfiguración del instrumento por parte del operador.
- Detector LYNXEYE XE-T.
- Máxima calidad de datos y mínimos límites de cuantificación.
- Manejo intuitivo con pantalla táctil.
- Bajos costes de funcionamiento gracias al ahorro de energía y sin necesidad de agua de refrigeración.
- Se utiliza comúnmente en la investigación de materiales para la industria farmacéutica, electrónica, química y de materiales.
El D8 ENDEAVOR es un instrumento compacto que utiliza un tubo de rayos X de alta potencia para producir un haz de rayos X monocromático. La muestra se coloca en una posición fija y se dirige el haz de rayos X hacia ella. Los átomos de la muestra difractan los rayos X, produciendo un patrón de difracción en una pantalla detectora.
Es capaz de analizar una amplia gama de materiales, desde metales y cerámicas hasta compuestos orgánicos e inorgánicos.
La aplicación del difractómetro de rayos X de sobremesa D8 ENDEAVOR es muy amplia.
Por ejemplo, se puede utilizar para la identificación de fases cristalinas en muestras de polvo, la determinación de estructuras cristalinas de proteínas y compuestos orgánicos, y la medición de tensiones residuales en materiales metálicos. También se utiliza para analizar la pureza y la calidad de los productos farmacéuticos, y para determinar la composición y la estructura de los materiales semiconductores.
PREGUNTA 2:
FESEM, SEM y TEM son diferentes tipos de microscopios electrónicos que utilizan haces de electrones para producir imágenes de alta resolución de muestras en una escala nanométrica. A continuación, se describen las principales diferencias entre ellos:
· FESEM (microscopio electrónico de barrido de emisión de campo): Este tipo de microscopio utiliza una fuente de electrones para producir imágenes de alta resolución de la muestra. El haz de electrones se enfoca sobre la superficie de la muestra, lo que permite la visualización de detalles finos. Además, el FESEM puede generar imágenes en 3D y proporciona una mejor resolución espacial que el SEM convencional.
· SEM (microscopio electrónico de barrido): A diferencia del FESEM, el haz de electrones se enfoca en la muestra para generar una imagen de alta resolución. La muestra se escanea con un haz de electrones, que interactúa con los átomos de la muestra y produce una señal que se recoge y procesa para generar una imagen. El SEM es útil para la observación de superficies tridimensionales.
· TEM (microscopio electrónico de transmisión): Este tipo de microscopio se utiliza para visualizar la estructura interna de la muestra. Los electrones pasan a través de la muestra y se proyectan en una pantalla para crear una imagen. El TEM proporciona una resolución espacial muy alta, pero sólo permite la visualización de secciones ultrafinas de la muestra. El TEM es ideal para estudiar la estructura de materiales como las aleaciones metálicas, las cerámicas y los materiales biológicos.
