DIFERENCIAS ENTRE TEM, SEM Y FE-SEM

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 Transmission Electron Microscopy (TEM), Scanning Electron Microscopy (SEM) y Field Emission Scanning Electron Spectroscopy (FE-SEM) son tres variantes de microscopía electrónica. La microscopía electrónica es una herramienta con muchas aplicaciones en varios campos de estudio gracias a una resolución mucho mayor de las imágenes obtenidas. 


https://www.technologynetworks.com/analysis/articles/sem-vs-tem-331262 

En este primer link encontramos una comparativa de las técnicas SEM y TEM, así como las ventajas e inconvenientes de una y la otra. 

La principal diferencia entre ellas es la forma en la que se produce la imagen de la muestra. En TEM, los electrones pasan a través de la muestra, lo que permite la observación de la estructura interna de la misma. En cambio, en SEM, los electrones rebotan en la superficie de la muestra, lo que permite la observación de la topografía de la superficie. 

Además, TEM se utiliza principalmente para muestras delgadas, como podrían ser secciones transversales de células o materiales, mientras que SEM es adecuado para muestras más gruesas y puede proporcionar imágenes tridimensionales de la superficie de la muestra.  


https://www.upv.es/entidades/SME/info/859071normalc.html#:~:text=La%20mayor%20diferencia%20entre%20un,el%20sistema%20generaci%C3%B3n%20de%20electrones.

En este segundo link, podemos ver una explicación de la diferencia entre SEM y FE-SEM y una resumen del fundamento de la última. 

La principal diferencia entre ellas es la fuente de electrones que se utiliza para escanear la muestra. En la Microscopía Electrónica de Barrido convencional, la fuente de electrones es un filamento caliente, mientras que en la Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo se utiliza una fuente de electrones de emisión de campo, que es capaz de producir electrones con mayor energía para obtener una mayor resolución de las imágenes. 


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