Calibración de un espectrómetro Echelle mediante plasma láser

En este artículo aparece la calibración de un espectrómetro Echelle mediante plasma láser.

Abstract:

Los espectrómetros Echelle permiten la observación de grandes ventanas espectrales con alto poder de resolución en registros únicos. Sin embargo, estos dispositivos son muy sensibles a las variaciones de temperatura e incluso pequeños cambios pueden alterar tanto la longitud de onda como la calibración de intensidad. Aquí proponemos un método para verificar y rectificar rápidamente la calibración utilizando la emisión de un plasma producido por ablación láser pulsada de acero. Un espectro registrado con un gran retraso entre el pulso láser y la puerta de observación presenta líneas nítidas que se aprovechan para la calibración de la longitud de onda. Se registra un segundo espectro con un retraso más corto, cuando las propiedades del plasma permiten la simulación precisa del espectro de emisión de plasma. La respuesta del aparato se deduce de la relación de las intensidades de línea medidas sobre las calculadas. El método es de particular interés para los experimentos de degradación inducidos por láser en los que las medidas de calibración se realizan mediante el simple cambio de la muestra irradiada.

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